DSA8300/DSA8200采樣示波器: 10G/25G/40G/100G的測試方案

更新時間：2023-08-22 點擊次數：1322

Tektronix DSA8300/DSA8200采樣示波器基礎及應用

• 帶寬高達80GHz以上進行高速的周期脈沖測試進行高速的串行數據分析

• 噪聲低、高垂直分辨率(14bit) 進行高速的眼圖測試以及噪聲分析。

• 超低的觸發抖動(使用82A04的模塊使觸發抖動減少至200fs) 進行高速的串行數據抖動分析

使用Tektronix DSA8300/DSA8200能完成什么測試

• S參數測量：DSA8300/DSA8200可以對當前和各種新興標準的1 Gb/s到12.5 Gb/s串行數據率，實現準確且可重復的S參數測量，包括插入損耗、回波損耗、群延遲、相位和幅度不平衡等。

• 眼圖和眼圖輪廓：DSA8300/DSA8200可以利用80Cxx系列模塊的低噪聲和高分辨率，以及80SJNB軟件的先進算法，對高速信號進行眼圖和眼圖輪廓的獲取和分析，從而分離出抖動和噪聲的各個成分，并計算誤碼率和三維眼圖輪廓。

• 時鐘恢復：DSA8300/DSA8200可以使用80A05電氣時鐘恢復模塊或82A04相位參考模塊，對電氣或光學信號進行時鐘恢復，并提供內部觸發信號。這些模塊可以支持觸發模式和自由運行模式，以及擴頻時鐘（SSC）操作。

• TDR/TDT測量：DSA8300/DSA8200可以使用80E09或80E07雙通道TDR/TDT模塊，對電氣信號進行反射或透射的時域測量，從而檢測信號路徑中的阻抗不匹配、串擾、傳輸線長度等參數。

光接口物理層測試：對CRU的要求

光接口物理層測試：噪聲/靈敏度要求

在測試小功率光模塊或者超長波長光模塊時，DUT的光功率會很小。所以模塊的噪聲必須很低靈敏度很高，達到一定的信噪比，測試的結果才能準確，而顯示出來的信號噪聲是真正屬于信號的，而不是模塊自身的噪聲

光接口物理層測試：對濾波器的要求

測試眼圖模板時, 需要使用Optical Reference Receiver 光參考接收器 (O/E + Filter), 信號首先經光電轉換, 然后經4th Order Bessel-Thomson 濾波器過濾, 按業界規范要求, 此濾波器的帶寬要是被測信號速率的 0.75倍。

光接口物理層測試：對波長的要求

• 目前，按照光信號在光纖中的傳播方式有單模與多模之分；其波長也不一樣。主流的波長有780、850、1310、1550nm

• 單模：9um光纖直徑，波長多為1310、1550nm

• 多模：62.5um光纖直徑，波長多為780、850nm

泰克10G/25G/40G/100G的測試方案----模塊概覽

155 Mb/s to 12+ Gb/s Optical Test

80C07B 2.5 GHz BroadWavelength Multirate 155 Mb/s to 2.5 Gb/s Optical Module
80C12 Up to 10GHzBroadWavelengthMultirate 1 Gb/s to 10 Gb/s Optical Module
80C08C 10 GHz Broad Wavelength Multirate 10 Gb/s Optical Module
80C11 30 GHz Long Wavelength Multirate 10 Gb/s Optical Module 40 Gb/s and 100 Gb/s Optical Test 80C10B Multirate Datacom and Telecom 40 Gb/s and 100 Gb/s

10/40/100GbE Optical Compliance testing in ONE Instrument

Tektronix DSA8200/DSA8300 Opt. JNB + 80C08C-CR4 + 80C10B-F1 + 82A04 & 80A06